透射電子顯微鏡（TEM）是利用高能電子束充當照明光源而進行放大成像的大型顯微分析設備。透射電子顯微鏡樣品桿有以下3種分類：1、氣氛桿：氣氛桿能夠突破現有透射電鏡對于真空度要求的限制，在一個*封閉的氣體系統中，研究透射電鏡內的氣相反應過程，如高分辨下觀察催化劑與氣體的反應情況。并結合控溫模塊，能夠在特定的壓力和溫度下動態的，實時的觀察原子級別的固氣反應。2、加熱桿：加熱桿的電熱電子芯片采用*的加熱技術，在絕緣層上添加了額外電極圖案。這種分離電刺激的設計，減少了電流的泄漏和保持了...

透射電子顯微鏡原位電學性能測試系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操控和電學測量。1、觀察透射電鏡狀態，看設備是否正常運行，觀察真空值，看是否在合理范圍內。2、更換樣品。將制備好的透射電鏡樣品放入樣品桿前端樣品槽內，將金屬壓片壓在樣品上，用工具擰好固定螺絲，將樣品固定牢靠。注意樣品一定要保持干凈，樣品上有膠、小顆粒等臟東西的樣品不能更換，否則會污染樣品桿，進而可能會污染透射電鏡鏡筒。微珊樣品一定要等水干透再更換樣品。將金屬壓片固定...

冷凍電鏡，是用于掃描電鏡的超低溫冷凍制樣及傳輸技術，將樣品冷卻到液氮溫度，用于觀測蛋白、生物切片等對溫度敏感的樣品，通過對樣品的冷凍，可以降低電子束對樣品的損傷，減小樣品的形變，從而得到更加真實的樣品形貌。冷凍電鏡具有較好的穩定性和重復性并且操作簡便，管理方便的特點，通過對樣品的冷凍，可實現直接觀察液體、半液體及對電子束敏感的樣品，如生物、高分子材料等。冷凍電鏡使用的原理是將樣品經過超低溫冷凍、斷裂、鍍膜制樣（噴金/噴碳）等處理后，通過冷凍傳輸系統放入電鏡內的冷臺（溫度可至-...

材料在微觀結構與組織的變化一直是受材料學家們關注的方向之一。通過在樣品上施加各種外場作用,利用透射電子顯微鏡(TEM)來實時觀察分析,可以直觀地研究材料或器件在實際使用過程中的性能表現,這對于材料結構性能關系的研究有著重要的實際意義。透射電鏡有幾個重要的發展方向。1、分辨率的提升:分辨率一直是透射電鏡發展的目標和方向，發展新一代單色器和球差校正器，進一步提高透射電鏡的能量分辨率和空間分辨率，尤其是對低壓電鏡；2、可以更廣泛的應用在生物大分子結構研究中。冷凍電鏡在生物大分子結構...

高真空檢漏儀是專門用于TEM樣品臺真空儲存和密封檢查的儀器。它能夠在5min內將系統內真空度抽至10^(-5)mBar，即TEM內的真空環境。超新芯提供的高真空檢漏儀搭配有超高分辨數字顯微系統，自帶13寸顯示器及自動變焦功能，放大倍率達800X，分辨率達1微米。研究人員可輕松完成液體池或氣體池的密封性、完整性檢查。并可觀察芯片窗體是否破裂或者污染，檢驗樣品在窗體分布情況。高真空檢漏儀的優勢：采用高分辨顯微鏡平臺，xy軸微運動集成，以及高分辨電子相機和顯示屏，*契合電鏡使用，具...